對于時間測量要求極高的場景（如ADAS傳感器信號），杭州國磊GT600可選配高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），精確捕捉信號延遲與抖動，確保通信實時性。 再次，GT600支持混合信號測試。 現代車規芯片（如智能座艙、域控制器SoC）集成了CPU、GPU、ISP、音頻編解碼等模塊。國磊GT600通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試攝像頭ISP的圖像處理能力；通過高速數字通道驗證CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***，國磊GT600的512站點并行測試能力，大幅提升了車規芯片的量產效率，降低了單顆測試成本，助力國產車規芯片快速上車。GM8800是進行絕緣劣化試驗的理想選擇。杭州CAF測試系統定制

當前，AI大模型與高性能計算正以前所未有的速度推動HBM（高帶寬存儲器）技術爆發式增長。HBM3、HBM3E成為英偉達、AMD、華為等巨頭AI芯片的標配，全球需求激增，市場缺口持續擴大。然而，HBM不**改變了芯片架構，更對后端測試提出了前所未有的挑戰——高引腳數、高速接口、復雜時序與電源完整性要求，使得傳統測試設備難以勝任。國磊GT600測試機應勢而生，專為應對HBM時代**SoC測試難題而設計。它不是直接測試HBM芯片，而是**服務于“集成了HBM的AI/GPU芯片”的功能驗證與量產測試，成為國產**ATE在HBM浪潮中的關鍵支撐力量，助力中國芯突破“內存墻”背后的“測試墻”。杭州CAF測試系統價位GT600通過多SMU同步控制與TMU測量，驗證各域電壓建立時間符合設計時序否。若順序錯，可能閂鎖或功能異常。

杭州國磊SOC測試機：開啟全場景智能測試新紀元在半導體測試領域，杭州國磊SOC測試機憑借***性能與創新技術脫穎而出，成為行業焦點。作為杭州國磊半導體設備有限公司的**產品，它專為系統級芯片（SoC）測試量身打造，以“彈性擴展+國產自研+全棧覆蓋”三大**優勢，為芯片測試提供一站式解決方案。 杭州國磊SOC測試機采用模塊化彈性架構，擁有GC-36旗艦型、GC-18性能型、GC-8經濟型三階主機箱，靈活適配不同規模產線與實驗室驗證需求。其***“硬對接+線纜雙模式”，支持機柜、桌面、機端部署，極大提升了設備部署的便捷性與靈活性。 在性能方面，杭州國磊SOC測試機實現多項突破。數字信號速率高達800Mbps，向量存儲深度達128M，支持多站點并行測試，單機可同步運行32個測試單元，測試吞吐量提升300%，***縮短測試周期。同時，其高壓測試范圍覆蓋-10V至+1000V，時間測量精度達1ps分辨率，滿足**AD/DA芯片、MCU微控制單元等復雜芯片的嚴苛測試需求。 作為國產自研的典范，更在服務響應速度與定制化能力上**一步。其全流程測試覆蓋能力，涵蓋數字、電源、高壓、大功率、射頻分析等六大核心板卡矩陣，為芯片從研發到量產的全生命周期提供堅實保障。

現代手機SoC是高度集成的“微型超級計算機”，一顆芯片內融合了CPU（**處理器）、GPU（圖形處理器）、NPU（神經網絡引擎）、ISP（圖像信號處理器）、基帶（5G/4G通信模塊）、內存控制器、電源管理單元等數十個功能模塊，協同完成從AI計算、高清拍照到高速聯網的復雜任務。這對測試設備提出了“全能型”要求。國磊GT600憑借512個高速數字通道，可并行激勵與捕獲CPU/GPU的邏輯響應，驗證運算正確性；通過可選配AWG（任意波形發生器）板卡，可生成高保真模擬圖像信號，精細測試ISP對色彩、噪聲、動態范圍的處理能力；再結合高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），可精確捕捉基帶芯片收發信號的時間抖動與延遲，確保5G通信的穩定性和低時延。16個通用插槽支持靈活配置，讓國磊GT600能像“變形金剛”一樣，針對不同模塊組合比較好測試方案，真正實現“一機通測”，***保障國產**SoC的功能完整性與性能可靠性。國磊GT600SoC測試機的10ps分辨率TMU可用于驗證先進節點下更嚴格的時序窗口，如快速喚醒與電源切換延遲。

5G/6G通信芯片的“時序顯微鏡” 5G/6G基站與終端芯片對信號時序精度要求極高，微小抖動即可導致通信中斷。杭州國磊GT600配備高精度TMU（時間測量單元），分辨率高達10ps（0.01納秒），相當于光在3毫米內傳播的時間，能精細捕捉高速信號邊沿的微小偏移。這一能力對于驗證基帶芯片、射頻前端、AD/DA轉換器的時序一致性至關重要。杭州國磊GT600還可通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試芯片在復雜調制模式下的響應性能。其400MHz測試速率與100ps邊沿精度，確保能覆蓋PCIe、USB、MIPI等高速接口的協議測試需求。在通信技術快速迭代的背景下，杭州國磊GT600以“皮秒級”測量能力，為國產通信芯片的性能與穩定性提供精細驗證，助力中國在6G賽道**占先機。國磊GT600在電源門控測試中，通過其高精度測量能力與靈活測試架構，適配成熟到先進節點的工藝制程。杭州國磊高阻測試系統供應商

國磊GT600SoC測試機支持GT-AWGLP02任意波形發生器板卡，THD達-122dB，適用于HBMSerDes接收端靈敏度測試。杭州CAF測試系統定制

    GT600SoC測試機在測試高可靠性產品（如車規芯片、工業級MCU、航天電子、**設備芯片）時，展現出精度、***性、穩定性與可追溯性四大**優勢，確保產品在極端環境下長期穩定運行。首先，高精度參數測量是可靠性的基石。GT600配備每通道PPMU（參數測量單元），可精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導致的微小漏電或潛在短路。這種“亞健康”芯片在常溫下可能功能正常，但在高溫或長期使用后極易失效。GT600通過精密篩查，提前剔除隱患，大幅提升產品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性測試項目。GT600可配合溫控系統進行高溫老化測試（Burn-in），在高溫高壓下運行芯片數百小時，加速暴露早期缺陷。其浮動SMU電源板卡能模擬車載12V/24V或工業設備的復雜電源環境，驗證芯片在電壓波動、負載突變下的穩定性。對于通信類高可靠產品，高精度TMU（10ps分辨率）可檢測信號時序漂移，確保長期通信無誤碼。再次，高穩定性與長周期測試能力。GT600硬件設計冗余，散熱優良，支持7x24小時連續運行，可執行長達數周的耐久性測試，模擬產品十年生命周期。128M向量深度確保長周期測試程序不中斷，數據完整。***，數據可追溯性強。 杭州CAF測試系統定制