多個產品同時測量減少成本測量對象可任意擺放，多個產品可同時測量，**節省測量時間，減少用工成本！低畸變圖像無變形即便在鏡頭邊緣部位測量，圖像畸變也很小，無需擔心測量對象所放位置。缺陷過濾測量位置包含有毛邊或缺陷時系統能自動識別，排除異常點提高測量的準確度。數據追溯管理更簡單測量結果自動保存，可按測量日期、產品名稱、產品料號等信息搜索，數據追溯管理簡單優勢：測量更準確采用雙倍率雙側遠心光學鏡頭，具有較高的遠心度，即使有段差情況下也能高精度正確的測量。倍率涵蓋0.16X大視野/0.7X高精度。馬波斯提供非接觸式傳感器（測量力小）在內的多種傳感器，以及顯象或測量計算機。江西非接觸式傳感器技術

光譜共焦位移傳感器原理介紹一束白光點光源，通過色散透鏡發生光譜色散，形成不同波長的單色光，每個波長的都有一個完美聚焦點且對應一個相對高度距離值（測量范圍）。測量時所有波段的光射到物體表面被原路反射到半透半反射鏡并重新聚焦，只有在被測物體上完美聚焦S‘點的波段的光才會通過共焦點小孔S“并被光譜儀感測到，其他波長的光被擋在小孔之外，通過計算進入小孔的光譜波長換算出相對距離。面白光干涉傳感器白光干涉測量**于非接觸式快速測量，精密零部件之重點部位的表面粗糙度、平面度、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、面形輪廓及臺階段差尺寸，其測量精度可以達到納米級！目前，在3D測量領域，白光干涉儀是精度比較高的測量儀器之一江西非接觸式傳感器技術用點光譜或線光譜傳感器測量晶圓上的翹曲/平面度 凸塊測量CLMG/EVERESTK1/K2傳感器系列可達360,000測點/秒。

顛覆傳統激光三角測距法，3D尺寸精密測量方案提供者線激光位移傳感器高場度高性價的線激光位移器，操作簡單易懂出廠時已作標定，用戶開箱即用，重新定義3D視覺，讓3D相機的使用和2D相機一致非接觸式晶圓厚度測量系統非接觸式晶圓厚度測量系統是一種利用氣體動靜壓原理工作的非觸式軸承，由于工作在平面度較好的花崗巖表面，因此本身也能獲得非常理想的使用。非接觸式晶圓粗糙度測量系統階梯式測量還原接觸測量真實結果:直線電機高精度龍門動機構:兼容拋光、未拋光透明及非透明晶圓測量

在半導體行業應用：LED芯片三維測量LED晶圓光學檢測BGA半導體封裝光伏晶圓表面形貌測量涂層厚度時與部件無任何接觸。激光和紅外傳感器可分析2至50厘米距離的涂層。這意味著可以在工業涂層環境中測量部件，即使它們位于移動產線上、在高溫環境中，甚至易碎或潮濕環境中。由于激光束產生的熱量極少，因此測量過程中涂層和部件都不會被損壞或改變。因此，對于那些迄今已有的方法會破壞測試樣品的工業運用，它也可以系統地測量每個部件。測量通常不到一秒鐘，具有高度重復性。這樣可以控制高達100％的涂層部件，嚴格遵循涂層工藝性能并實時反應以保持比較好狀馬波斯測量科技是一家專業提供光譜共焦傳感器的公司，有想法的可以來電咨詢！

優勢?具有自主知識產權的算法和軟硬件設計?·具備高速原始點云傳輸能力?·具備深度圖輸出對接各大機器視覺軟件?·高達2048測量點的X向輪廓檢測?·出色的光學設計,可檢測高反光、玻璃等材料?·405nm藍色激光,面向精密電子與汽車鈑金行業需求?·1P67防護等級,防塵、防水、抗震?·可靠工作于0-50℃技術特點產品基于激光三角法測量原理：圖像傳感模組從一個角度檢測投射到被測物體表面上的激光線，反射光透過高質量光學系統，被投射到成像單元上。圖像處理計算傳感器到被測表面的高度方向(Z軸)和沿著激光線的方向(x軸)的距離信息。通過移動被測物體或傳感器，獲取的一系列切片信息進行組合，就可以得到三維數據。馬波斯測量科技為您提供專業的光譜共焦傳感器，有想法可以來我司咨詢！上海線光譜共焦傳感器價格

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閃測儀測量更準確采用雙倍率雙側遠心光學鏡頭，具有較高的遠心度，即使有段差情況下也能高精度正確的測量。倍率涵蓋0.16X大視野/0.7X高精度。一鍵測量閃測儀是一種新型的影像測量技術，它和傳統的二次元影像測量儀不同的是它不再需要光柵尺位移傳感器作為精度標，也不要經過大焦距的鏡頭經過放大產品影像來保障測量精度。多年來精密測量業里流行著這么一句話：影像測量儀是傳統投影儀的替代產品，影像測量儀將取代傳統投影儀。如今我們將再一次打破傳統，閃測儀將取代影像測量儀和傳統投影儀江西非接觸式傳感器技術