隨著新技術的進步，可能需要給機床配備新的測量與控制儀器，雖然先前的測量與控制儀器仍能工作，但是不能達到性能、成本與維護要求。因為馬波斯在這個領域中的經驗長達60多年，所以可以針對所有升級要求提供多種產品與合格的技術支持；采用符合所有國際環境和**標準的先進新設備輕松替換舊設備和/或過時設備：測量頭（如：UNIMAR與NANOUNIMAR）、測量顯示與電氣處理裝置（如：P7UP與P3UP）、砂輪平衡架（如：平衡頭與P7WB）、監控傳感器（如：AE傳感器、P7SE與P3SE）、接觸式測頭（如：WRS、VOS與OP32）、接觸式或非接觸式刀具檢查用探頭（如： MIDA LASER P與TSLINE）馬波斯測量科技可以供應外圓磨床在線加工測量儀軟件，歡迎聯系我們。浙江雙圓盤平面磨床測量儀技術

與馬波斯測量頭相連的新電子測量儀P1Dme對于磨床而言是一個經濟、緊湊、實用與可靠的解決方案。P1Dme控制著磨削過程中的零件尺寸。它是一個扁平的緊湊測量儀，帶有蓋板玻璃觸屏，很容易將其安裝在任何磨床上，以實現平滑的零件控制。新的人機界面直觀，旨在讓操作員的每日作業變得簡單。當與馬波斯測量頭連接時，P1dme可控制各類磨床中的零件尺寸。測量儀測量了磨削過程中遠離的零件余量。操作員可將觸屏顯示器用于零件狀態實時檢查以及數據編程。測量儀也呈現了機床控制系統的信號，以管理砂輪進給。因為配有新的直觀人機界面，所以很容易完成標準件與機床補償的每日操作。安徽加工后測量儀報價可自動獲取工件的直徑或長度值，分析噪聲，將程控閾值與各種值比較，以便操作員/機床做出決定。

Marposs設計的用戶界面基于先進的表示方法，實際上，這些表示方法使用的開發環境與為消費者標記創建界面所用的開發環境相同。這確保了與設備交互的用戶能夠找到與市場上其他設備（觸摸屏、各種軟件級別的組織、類似的圖形對象等）相同的性能。軟件均包可根據所用設備的結構、客戶的要求和必要的通信方法進行配置。Marposs生產的設備可根據硬件/軟件配置進行劃分：有“單功能設備”管理單一類型的控制，并允許低程度的定制和外部接口；有大擴展可能性的系統“多功能/多任務設備”，可執行各種控制類型，具有更復雜的周期和更大的外部信息交換。圖形選項有各種級別，從簡單的狀態或數字或條形圖到時間圖、直方圖和圖形。

MIDA探針應用的輔助程序，可為每類機床以及帶有各種附件的每類客戶規范定制馬波斯配件系統。正確測量在很大程度上取決于探針接近零件以及精確觸及到接觸點的能力。馬波斯在設計探針方面有著豐富的經驗，其旨在為機床研發各種支架、延伸架與觸針，以盡可能提供更大的靈活性。支架與延伸架接觸式測頭的支架與延伸架范圍使得能夠將測頭用于每類機床上以及從機床和零件幾何形狀方面適應**關鍵的應用。探針帶有紅寶石球或鋼球的陶瓷或鋼制探針系列使得可以為每個測量應用做出比較好配置?？色@取各種版本的與碳化鎢接觸的零件和刀具測量探針，這些探針的針桿由陶瓷或不銹鋼制成，通常有M4螺紋，以便能夠將觸針緊固在測頭上。每個探針可確保高精確度和高可靠性，且可請求獲取各種定制解決方案。在線加工測量儀方法咨詢，請聯系馬波斯測量科技。

Marposs-NCG測厚儀是一種基于干涉技術的測厚儀。它將反射在被測物體不同表面的層邊界上的光波引入干涉，計算出被測物體的層厚，包括玻璃、塑料和硅片。由于使用了紅外光源，因此也可以測量非透明材料。該測量儀被設計用于控制不同類型零件的厚度，包括玻璃、塑料和硅片。Marposs NCG是一種高速精密測量儀，使用范圍廣，可連接到多種機器上，以實現精確、快速的零件厚度控制。它可用于特定的夾具或機器內部，在技術數據規定的范圍內的干燥或潮濕環境中。馬波斯測量科技可以供應外圓磨床在線加工測量儀。安徽加工后測量儀廠家

MARPOSS嗅探氦氣泄漏測試方案能夠測量10-2 - 10-4 SCC/sec的泄漏，該技術在漏率范圍內取得了良好測試結果。浙江雙圓盤平面磨床測量儀技術

統計過程控制規定了三個活動階段：了解過程：必須在其行為中識別過程，并且必須明確規定每個受控特征的規格界限?？勺冃缘奶厥庠虮仨毾?，以使過程穩定。使用控制圖監控生產過程：這些圖表用于及時檢測受控特征的均值或方差的變化。控制圖的目的是識別始終存在的可變性的常見原因，并將其與特殊原因區分開來。統計過程控制的目標不是檢查零件是否良好，而是預測并防止生產出有缺陷的零件。為此，可將控制圖作為預測工具，并確定可能導致生產出有缺陷的零件的原因。一旦控制圖表示存在不穩定的過程（SPC警報），就必須采取措施控制生產，從而限制了部件不合格和生產線的減速。當控制圖沒有發出任何警報信號時，該過程可被視為“穩定”或“受控制”；其“過程能力”可以通過“能力研究”進行計算。過程能力是一種用來計算過程在未來指定限制時間內生產零件的能力的指數。**初的Shewart理論基于過程，其特征*由一種正態分布進行描述。隨著時間的推移，統計過程控制的能力得到了改進，能夠（使用Pearson控制圖）分析不同分布描述的連續特征，（使用P控制圖和NP控制圖）分析離散特征，以及（使用C控制圖）和U控制圖）分析具有多個缺陷的離散特征。浙江雙圓盤平面磨床測量儀技術