面對AI眼鏡出貨量激增（IDC預計2025年全球達1280萬副），量產測試效率成為關鍵瓶頸。國磊GT600測試機支持**512Sites并行測試，**提升測試吞吐量，降低單顆SoC測試成本，滿足高量產型號的產能需求。其支持Access、Excel、CSV、STDF等標準數據格式導出，便于測試數據與MES系統對接，實現良率追蹤與SPC分析。GPIB/TTL接口可同步探針臺與分選機，構建全自動CP/FT測試流程，提升測試一致性與可靠性。對于集成了AI加速單元的MCU類SoC，國磊GT600測試機可同時驗證其神經網絡推理功能與低功耗行為，確保端側AI性能與續航的雙重達標。GM8800是進行絕緣劣化試驗的理想選擇。杭州國磊SIR測試系統供應

測試數據閉環助力量子芯片協同優化，國磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式輸出，并具備數據分析與圖形化顯示功能。這些測試數據可與量子芯片的設計仿真平臺聯動，形成“測試—反饋—優化”閉環。例如，若某批次控制芯片的相位噪聲超標，可反向指導量子比特布局或濾波器設計，提升整體系統相干時間。國產化替代保障量子科技供應鏈** 量子技術屬于**戰略科技力量，其**裝備的自主可控至關重要。國磊（Guolei）作為國產**ATE廠商，其GT600系統已實現對國際同類設備（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。杭州絕緣電阻測試系統國磊GT600雖不是專為Chiplet設計，但其“模塊化、高性能多物理場集成”的架構具備服務Chiplet測試的能力。

低功耗SoC在先進工藝下表現出更復雜的漏電行為、更敏感的電源完整性需求、更精細的時序窗口，以及混合信號模塊（如PLL、ADC、LDO）的高精度驗證要求。傳統測試設備往往難以滿足這些需求，尤其是在靜態電流（IDDQ）、電壓裕量測試、動態功耗曲線、喚醒延遲、電源序列控制等關鍵參數的測量上。此時，國磊GT600測試機的價值凸顯。GT600支持每通道PPMU（ParametricPinMonitorUnit），可實現nA級靜態電流測量，**捕捉先進工藝下SoC的漏電異常，確保低功耗模式（Sleep/DeepSleep）的有效性。其可選配的高精度浮動SMU板卡支持-2.5V~7V寬電壓范圍與1A驅動能力，可用于DVFS電壓切換測試與電源域上電時序驗證。

國產替代的“自主基石” 在美國對華**半導體設備禁運的背景下，國產測試機成為“卡脖子”環節的突圍重點。杭州國磊GT600作為國產**SoC測試平臺，支持C++編程、Visual Studio開發環境，軟件系統開放可控，避免依賴國外“黑盒子”軟件。其硬件架構靈活，16個通用插槽可適配國產探針臺、分選機，實現全鏈路本土化集成。交期短、響應快、可定制，滿足華為、比亞迪等企業對供應鏈**與數據**的嚴苛要求。杭州國磊GT600的出現，標志著中國在**測試設備領域從“跟跑”向“并跑”邁進。它不僅是工具，更是中國半導體產業鏈自主可控戰略的“**支柱”，為國產芯片的持續創新提供堅實底座。國磊GT600支持多Site并行測試，提升電源管理芯片、運放等高量產型號的測試效率與產能。

支持復雜測試向量導入，加速算法驗證閉環 智能駕駛芯片的**價值在于其內置的AI推理引擎能否準確執行感知與決策算法。杭州國磊GT600支持從其他測試平臺導入測試程序與向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多種數據格式，便于將仿真環境中的算法測試用例直接轉化為ATE（自動測試設備）可執行的測試向量。例如，可在GT600上加載真實道路場景下的圖像識別或目標檢測激勵序列，驗證NPU在極限負載下的響應正確性與時延表現，從而構建“算法—芯片—測試”一體化驗證閉環。國磊GT600向量存儲深度32/64/128M，支持長Pattern測試序列，適用于帶數字校準功能的智能傳感器芯片。杭州絕緣電阻測試系統

國磊GT600SoC測試機的10ps分辨率TMU可用于驗證先進節點下更嚴格的時序窗口，如快速喚醒與電源切換延遲。杭州國磊SIR測試系統供應

    杭州國磊（Guolei）SoC測試系統（以GT600為**）雖主要面向高性能系統級芯片（SoC）的數字與混合信號測試，但憑借其高精度模擬測量、靈活電源管理、高速數字接口驗證及并行測試能力，能夠有效支持多種MEMS（微機電系統）。以下是其具體支持的典型MEMS應用場景：1.慣性測量單元（IMU）IMU廣泛應用于智能手機、無人機、AR/VR設備及智能駕駛系統，通常集成3軸加速度計+3軸陀螺儀（6DoF）甚至磁力計（9DoF）。其配套ASIC需完成微弱電容信號調理、Σ-ΔADC轉換、溫度補償和SPI/I?C通信。杭州國磊（Guolei）支持點：利用24位高精度Digitizer板卡捕獲nV~μV級模擬輸出；通過TMU（時間測量單元）驗證陀螺儀響應延遲與帶寬；使用400MHz數字通道測試高速SPI接口時序（眼圖、抖動）；PPMU每引腳**供電，精確測量各工作模式功耗。 杭州國磊SIR測試系統供應